上海秦治手持式激光光谱仪

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日立MAXXI / X-Strata 系列
  • 商品概要: 基于X-光荧光的涂层厚度和材料分析是业内广泛接受认可的分析方法,提供易于使用、快速和无损的分析,几乎不需要样本制备,能够分析元素周期表上从13Al 到92U 的固体或液体样品。
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